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如何用DMM7510萬用表精準測試接觸電阻方法
發布日期：2022-05-23 瀏覽數：2
接觸電阻就是電流流過閉合的接觸點對時的電阻。這類測量是在諸如連接器、繼電器和開關等元件上進行的。接觸電阻一般非常小，其范圍在微歐姆到幾個歐姆之間。
接觸電阻測試難點及應對方案
//測試難點一
通常，測試接點電阻的目的是確定接觸點氧化或其它表面薄膜積累是否增加了被測器件的電阻。即使在極短的時間內，器件兩端的電壓過高也會破壞這種氧化層或薄膜，從而破壞測試的有效性。擊穿薄膜所需要的電壓電平通常在30mV到100mV的范圍內。
//測試難點二
在測試時流過接點的電流過大也能使接觸區域發生細微的物理變化。電流產生的熱量能夠使接觸點及其周圍區域變軟或熔解。結果，接點面積增大，并導致其電阻降低。
注：由于其它的測試方法可能會引起接點發生物理或電學的變化，所以對器件的干電路測量應當在其它的電學測試之前進行。
吉時利2010型數字多用表、DMM7510數字萬用表、2750型和3706A數字多用表數據采集系統進行四線接觸電阻測量時，靈敏度高，能夠采用偏置補償模式自動補償取樣電路中的熱電勢偏置，并內置干電路測量功能，可滿足大多數應用的接觸電阻測量工作。
以上就是關于如何用DMM7510萬用表精準測試接觸電阻方法，如您使用中還有其他問題，歡迎登錄安泰測試www.9r3b.com
接觸電阻測試方法
使用數字多用表測量接點兩端的四線電阻示意圖
采用吉時利高精度多用表結合四線法，以避免在測量結果中計入引線電阻。將電流的端子接到該接點對的兩端。取樣(Sense)端子則要連到距離該接點兩端電壓降最近的地方。其目的是避免在測量結果中計入測試引線和體積電阻(bulk resistance)產生的電壓降。注：體積電阻就是假定該接點為一塊具有相同幾何尺寸的金屬實體，而使其實際接觸區域的電阻為零時，整個接點所具有的電阻。
DMM7510偏置補償示意圖
如何對測試器件進行四線連接取決于器件的形式，在某些情況下，焊接可能是不可避免的。被測接點上的每個連接點都可能產生熱電動勢。然而，這種熱電動勢可以通過吉時利高精度萬用表的電流反向或偏置補償方法來補償。接觸電阻測試難點及應對方案
//測試難點一
通常，測試接點電阻的目的是確定接觸點氧化或其它表面薄膜積累是否增加了被測器件的電阻。即使在極短的時間內，器件兩端的電壓過高也會破壞這種氧化層或薄膜，從而破壞測試的有效性。擊穿薄膜所需要的電壓電平通常在30mV到100mV的范圍內。
//測試難點二
在測試時流過接點的電流過大也能使接觸區域發生細微的物理變化。電流產生的熱量能夠使接觸點及其周圍區域變軟或熔解。結果，接點面積增大，并導致其電阻降低。
//解決方案
DMM7510干電路模式示意圖
為了避免這類問題，通常采用干電路的方法來進行接點電阻測試。干電路就是將其電壓和電流限制到不能引起接觸結點的物理和電學狀態發生變化電平的電路。一般地說，這就意味著其開路電壓20mV或更低，短路電流100mA或更低。由于所使用的測試電流很低，所以就需要非常靈敏的電壓表來測量這種通常在微伏范圍的電壓降。注：由于其它的測試方法可能會引起接點發生物理或電學的變化，所以對器件的干電路測量應當在其它的電學測試之前進行。
吉時利2010型數字多用表、DMM7510數字萬用表、2750型和3706A數字多用表數據采集系統進行四線接觸電阻測量時，靈敏度高，能夠采用偏置補償模式自動補償取樣電路中的熱電勢偏置，并內置干電路測量功能，可滿足大多數應用的接觸電阻測量工作。
以上就是關于如何用DMM7510萬用表精準測試接觸電阻方法，如您使用中還有其他問題，歡迎登錄安泰測試www.9r3b.com
